HD-T1 anvendes primært til kontrolmåling af wafer-plader, som bruges til frem-stilling af chips. Kontrolmålingen foretages ved hjælp af en lysstråle for højest mulig præcision og opløsning.
- Forsyning: 24 V DC ±10%
- Tasteafstand: 30 mm
- Måleområde: 30 mm
- Dimensioner sensorhoved: 138 x 17 x 56 mm
- Dimensioner forstærker: 90 x 43 x 45 mm
